2018 Touch Taiwan主辦單位舉辦「2018 國(guó)際Micro LED Display產(chǎn)業(yè)高峰論壇」，聚集友達(dá)光電、eLux、國(guó)星光電、隆達(dá)電子、X-Celeprint、Veeco、Lumiode、三安光電、TOPCON、集創(chuàng)北方、錼創(chuàng)、奧寶、Sony及工研院等多家重量級(jí)講師，分享Micro LED相關(guān)技術(shù)應(yīng)用與未來展望，在這場(chǎng)高峰論壇中主要是針對(duì)Micro LED 磊晶、轉(zhuǎn)移、色彩化、檢測(cè)、驅(qū)動(dòng)、設(shè)備…等技術(shù)做深入的探討。
Lumiodes的講師Vincent提到該公司整合LED及Silicon TFT技術(shù)，應(yīng)用在Micro LED制程技術(shù)中，可以減少制程成本及解決量化的問題，并且在Micro display應(yīng)用中亮度可由現(xiàn)狀亮度規(guī)格1,000 cd/m2，提升至10,000,000 cd/m2。
三安光電徐宸科副總經(jīng)理提到未來Micro LED制程技術(shù)將遇到的挑戰(zhàn)有磊晶技術(shù)需要不斷的提升，尤其是紅光晶片、波長(zhǎng)均勻度需要更均勻以及VI 曲線的控制、巨量轉(zhuǎn)移技術(shù)的UPH、設(shè)備的精密度、晶片結(jié)合技術(shù)、生產(chǎn)良率、轉(zhuǎn)移后檢測(cè)技術(shù)、維修技術(shù)以及加工成本…等。
TOPCON的講師西川和人介紹利用檢測(cè)設(shè)備做Micro LED產(chǎn)品的色彩及均勻度的檢測(cè)，并且利用光學(xué)模擬軟體及演算法做Mura的消除分析，以達(dá)到有效控制微顯示器色彩均勻度的問題。
集創(chuàng)北方的王祎君講師提到驅(qū)動(dòng)IC在Micro LED顯示技術(shù)中扮演很重要的角色，可以利用驅(qū)動(dòng)IC及驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)，達(dá)到De-mura的效果。
錼創(chuàng)科技的執(zhí)行長(zhǎng)李允立分享該公司PixeLED Display的技術(shù)開發(fā)進(jìn)展與挑戰(zhàn)，提到有關(guān)巨量轉(zhuǎn)移的技術(shù)理念以及快速且精準(zhǔn)的維修技術(shù)。
隸屬以色列公司的Orbotech講師Ray指出，Orbotech的檢測(cè)設(shè)備可以提供Micro LED在Backplane、Epi-Wafer、Mass Transfer及Repair制程上做線上的檢測(cè)，有非常高的精準(zhǔn)度。
來自日本Sony的Tatsuya介紹Crystal LED在2018 CES展的產(chǎn)品及現(xiàn)階段的安裝實(shí)績(jī)，并且說明Crystal LED拼接技術(shù)及相關(guān)性能特色。
最后則由工研院林建中博士分析Micro LED技術(shù)應(yīng)用與展望，工研院早在2009年發(fā)展Micro LED的產(chǎn)品，2014年發(fā)表單色的產(chǎn)品，2016年進(jìn)入全彩化的產(chǎn)品，目前也朝向不同的基材(CMOS及PI)方向研究發(fā)展，從過去的歷史經(jīng)驗(yàn)來看，未來Micro LED將會(huì)隨技術(shù)的突破而快速的加速發(fā)展及應(yīng)用。(文：LEDinside Simon)
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