2018國際Micro LED Display產(chǎn)業(yè)高峰論壇研討會(huì)直擊(下)

作者 | 發(fā)布日期 2018 年 08 月 31 日 11:10 | 分類 Micro LED

2018 Touch Taiwan主辦單位舉辦「2018 國際Micro LED Display產(chǎn)業(yè)高峰論壇」,聚集友達(dá)光電、eLux、國星光電、隆達(dá)電子、X-Celeprint、Veeco、Lumiode、三安光電、TOPCON、集創(chuàng)北方、錼創(chuàng)、奧寶、Sony及工研院等多家重量級(jí)講師,分享Micro LED相關(guān)技術(shù)應(yīng)用與未來展望,在這場高峰論壇中主要是針對(duì)Micro LED 磊晶、轉(zhuǎn)移、色彩化、檢測、驅(qū)動(dòng)、設(shè)備…等技術(shù)做深入的探討。

Lumiodes的講師Vincent提到該公司整合LED及Silicon TFT技術(shù),應(yīng)用在Micro LED制程技術(shù)中,可以減少制程成本及解決量化的問題,并且在Micro display應(yīng)用中亮度可由現(xiàn)狀亮度規(guī)格1,000 cd/m2,提升至10,000,000 cd/m2。

三安光電徐宸科副總經(jīng)理提到未來Micro LED制程技術(shù)將遇到的挑戰(zhàn)有磊晶技術(shù)需要不斷的提升,尤其是紅光晶片、波長均勻度需要更均勻以及VI 曲線的控制、巨量轉(zhuǎn)移技術(shù)的UPH、設(shè)備的精密度、晶片結(jié)合技術(shù)、生產(chǎn)良率、轉(zhuǎn)移后檢測技術(shù)、維修技術(shù)以及加工成本…等。

TOPCON的講師西川和人介紹利用檢測設(shè)備做Micro LED產(chǎn)品的色彩及均勻度的檢測,并且利用光學(xué)模擬軟體及演算法做Mura的消除分析,以達(dá)到有效控制微顯示器色彩均勻度的問題。

集創(chuàng)北方的王祎君講師提到驅(qū)動(dòng)IC在Micro LED顯示技術(shù)中扮演很重要的角色,可以利用驅(qū)動(dòng)IC及驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì),達(dá)到De-mura的效果。

錼創(chuàng)科技的執(zhí)行長李允立分享該公司PixeLED Display的技術(shù)開發(fā)進(jìn)展與挑戰(zhàn),提到有關(guān)巨量轉(zhuǎn)移的技術(shù)理念以及快速且精準(zhǔn)的維修技術(shù)。

隸屬以色列公司的Orbotech講師Ray指出,Orbotech的檢測設(shè)備可以提供Micro LED在Backplane、Epi-Wafer、Mass Transfer及Repair制程上做線上的檢測,有非常高的精準(zhǔn)度。

來自日本Sony的Tatsuya介紹Crystal LED在2018 CES展的產(chǎn)品及現(xiàn)階段的安裝實(shí)績,并且說明Crystal LED拼接技術(shù)及相關(guān)性能特色。

最后則由工研院林建中博士分析Micro LED技術(shù)應(yīng)用與展望,工研院早在2009年發(fā)展Micro LED的產(chǎn)品,2014年發(fā)表單色的產(chǎn)品,2016年進(jìn)入全彩化的產(chǎn)品,目前也朝向不同的基材(CMOS及PI)方向研究發(fā)展,從過去的歷史經(jīng)驗(yàn)來看,未來Micro LED將會(huì)隨技術(shù)的突破而快速的加速發(fā)展及應(yīng)用。(文:LEDinside Simon)

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