外媒:蘋果Micro LED芯片質(zhì)檢系統(tǒng)已獲得專利

作者 | 發(fā)布日期 2021 年 03 月 04 日 10:37 | 分類 Micro LED

據(jù)外媒報(bào)道,Apple正在開發(fā)一種提高M(jìn)icro LED顯示屏品質(zhì)管控的方法,已于2月23日獲得了相關(guān)專利。

這項(xiàng)專利技術(shù)可以在Micro LED芯片轉(zhuǎn)移至顯示面板之前對(duì)芯片質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè),從而降低生產(chǎn)制程的損失和缺陷率,有助于提升顯示屏的可靠性和質(zhì)量。

蘋果在專利中提到,Pick & Place取放技術(shù)和Bonding接合技術(shù)是Micro LED生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵技術(shù),而在轉(zhuǎn)移的過程中難免會(huì)因?yàn)椴糠中酒馁|(zhì)量問題而導(dǎo)致缺陷,增加返修需求。因此,在生產(chǎn)過程中對(duì)Micro LED芯片進(jìn)行檢測(cè)便至關(guān)重要。

蘋果近期獲得的專利就是為了解決這個(gè)問題,專利名稱為“Micro LED芯片檢測(cè)”(Micro light emitting diode testing)。

在這項(xiàng)專利中,蘋果描述了檢測(cè)Micro LED芯片質(zhì)量的方案,通過特定的測(cè)試設(shè)備和體系結(jié)構(gòu),在Micro LED芯片或行/列驅(qū)動(dòng)器轉(zhuǎn)移至顯示面板之前對(duì)其進(jìn)行辨別檢測(cè)和精準(zhǔn)定位。

圖片來源:拍信網(wǎng)正版圖庫(kù)

該系統(tǒng)主要用在接合制程之前,對(duì)任何缺陷或不合格的LED芯片進(jìn)行檢測(cè),一旦檢測(cè)到問題,廠商能夠更加簡(jiǎn)單有效地解決問題,這有助于提高后續(xù)制程的良率并降低成本。

針對(duì)有問題的微驅(qū)動(dòng)器和芯片,無論何時(shí)進(jìn)行測(cè)試,都可以用系統(tǒng)中備好的備用微驅(qū)動(dòng)器和芯片進(jìn)行替換。

另外,測(cè)試過程還可以更加具體或者分成不同的類別。例如,當(dāng)顯示屏部分亮度低于預(yù)期的亮度水平,蘋果能夠進(jìn)一步檢測(cè)是否有LED出現(xiàn)問題,或是否由于微驅(qū)動(dòng)器而導(dǎo)致一系列LED不能發(fā)揮出正常的性能水平。

另值得一提的是,2月20日消息,蘋果獲得一項(xiàng)Micro LED專利,名稱是“堆疊混合Micro LED像素結(jié)構(gòu)”。業(yè)界分析師推測(cè)蘋果Micro LED顯示屏將首先應(yīng)用在Apple Watch上。

實(shí)際上,有關(guān)蘋果考慮在其電子產(chǎn)品上采用Micro LED顯示屏的消息一直不絕于耳,蘋果也的確已經(jīng)獲得了不少M(fèi)icro LED相關(guān)專利,但未來是否真的會(huì)應(yīng)用到蘋果產(chǎn)品上仍不能確定。

盡管如此,以往的諸多報(bào)道足以表明,蘋果正在認(rèn)真考慮在2023或2024年發(fā)布的Apple Watch上采用Micro LED顯示屏。除此之外,還有消息傳出富士康正在努力爭(zhēng)取蘋果iPhone用Micro LED顯示屏的訂單。(LEDinside Janice編譯)

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