據(jù)外媒報(bào)道，Apple正在開發(fā)一種提高M(jìn)icro LED顯示屏品質(zhì)管控的方法，已于2月23日獲得了相關(guān)專利。
這項(xiàng)專利技術(shù)可以在Micro LED芯片轉(zhuǎn)移至顯示面板之前對芯片質(zhì)量進(jìn)行檢測，從而降低生產(chǎn)制程的損失和缺陷率，有助于提升顯示屏的可靠性和質(zhì)量。
蘋果在專利中提到，Pick & Place取放技術(shù)和Bonding接合技術(shù)是Micro LED生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵技術(shù)，而在轉(zhuǎn)移的過程中難免會(huì)因?yàn)椴糠中酒馁|(zhì)量問題而導(dǎo)致缺陷，增加返修需求。因此，在生產(chǎn)過程中對Micro LED芯片進(jìn)行檢測便至關(guān)重要。
蘋果近期獲得的專利就是為了解決這個(gè)問題，專利名稱為“Micro LED芯片檢測”（Micro light emitting diode testing）。
在這項(xiàng)專利中，蘋果描述了檢測Micro LED芯片質(zhì)量的方案，通過特定的測試設(shè)備和體系結(jié)構(gòu)，在Micro LED芯片或行/列驅(qū)動(dòng)器轉(zhuǎn)移至顯示面板之前對其進(jìn)行辨別檢測和精準(zhǔn)定位。
圖片來源：拍信網(wǎng)正版圖庫
該系統(tǒng)主要用在接合制程之前，對任何缺陷或不合格的LED芯片進(jìn)行檢測，一旦檢測到問題，廠商能夠更加簡單有效地解決問題，這有助于提高后續(xù)制程的良率并降低成本。
針對有問題的微驅(qū)動(dòng)器和芯片，無論何時(shí)進(jìn)行測試，都可以用系統(tǒng)中備好的備用微驅(qū)動(dòng)器和芯片進(jìn)行替換。
另外，測試過程還可以更加具體或者分成不同的類別。例如，當(dāng)顯示屏部分亮度低于預(yù)期的亮度水平，蘋果能夠進(jìn)一步檢測是否有LED出現(xiàn)問題，或是否由于微驅(qū)動(dòng)器而導(dǎo)致一系列LED不能發(fā)揮出正常的性能水平。
另值得一提的是，2月20日消息，蘋果獲得一項(xiàng)Micro LED專利，名稱是“堆疊混合Micro LED像素結(jié)構(gòu)”。業(yè)界分析師推測蘋果Micro LED顯示屏將首先應(yīng)用在Apple Watch上。
實(shí)際上，有關(guān)蘋果考慮在其電子產(chǎn)品上采用Micro LED顯示屏的消息一直不絕于耳，蘋果也的確已經(jīng)獲得了不少M(fèi)icro LED相關(guān)專利，但未來是否真的會(huì)應(yīng)用到蘋果產(chǎn)品上仍不能確定。
盡管如此，以往的諸多報(bào)道足以表明，蘋果正在認(rèn)真考慮在2023或2024年發(fā)布的Apple Watch上采用Micro LED顯示屏。除此之外，還有消息傳出富士康正在努力爭取蘋果iPhone用Micro LED顯示屏的訂單。（LEDinside Janice編譯）
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