SiC企業(yè)天狼芯半導(dǎo)體啟動(dòng)新實(shí)驗(yàn)中心

作者 | 發(fā)布日期 2024 年 03 月 05 日 13:43 | 分類 企業(yè)

深圳天狼芯半導(dǎo)體有限公司于2023年年底在上海市嘉定區(qū)設(shè)立了車規(guī)級(jí)可靠性實(shí)驗(yàn)中心,該實(shí)驗(yàn)中心是天狼芯半導(dǎo)體重點(diǎn)打造和建設(shè)的功率器件開放實(shí)驗(yàn)平臺(tái),主營(yíng)業(yè)務(wù)為車規(guī)級(jí)功率器件(MOSFET, SiC, GaN, IGBT單管+模塊)的可靠性實(shí)驗(yàn)和驗(yàn)證,致力于為天狼芯的客戶提供可靠性測(cè)試和認(rèn)證報(bào)告。

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實(shí)驗(yàn)室總面積約為七百平方米,一期投入超過(guò)一千萬(wàn)元,實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)由約十位工程師和實(shí)驗(yàn)員組成,配備了國(guó)內(nèi)及國(guó)外先進(jìn)高精度的可靠性測(cè)試設(shè)備,實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目完全按照AEC-Q101的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行,第一階段的十五個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目已全面開始運(yùn)作。

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目前可運(yùn)行項(xiàng)目包括:高濕減速壽命試驗(yàn) Highly Accelerate Atress Test、高溫高濕反向偏 High Humidity High Temp. Reverse Bias、高壓蒸煮 Autoclave、溫度循環(huán) Temperature Cycling、高溫儲(chǔ)存 High Temperature Storage、高溫高濕試驗(yàn) Temperature Humidity Test、間歇性使用壽命 Intermittent Operational Life、高溫反偏 High Temperature Reverse Bias、高溫柵偏 High Temperature Gate Bias、掃描聲學(xué)顯微鏡(分層掃描)Scanning Acoustic Microscope等。

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